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半導體 晶圓 Pinhole 光學檢測機
矽晶圓 AOI 檢測機
#半導體#晶圓#wafer#半導體設備#自動化#CCD#機械視覺#AOI#精密#代理#PLC
適用範圍:
-4” ~ 8”矽晶圓
作用:
-檢測晶圓表面凹洞及表面無法檢測之內層氣泡孔最小可檢測到50um
-可自動判斷有無缺陷
-客製化設計;滿足不同客戶需求
製程:
-出貨前檢測
優點:
-目視無法判斷的
-良率提高
-精度高
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統一編號：38506845
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