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半導體 晶圓 Pinhole 光學檢測機

矽晶圓 AOI 檢測機

#半導體#晶圓#wafer#半導體設備#自動化#CCD#機械視覺#AOI#精密#代理#PLC

適用範圍:

-4 ~ 8”矽晶圓

 

 

 

作用:

-檢測晶圓表面凹洞及表面無法檢測之內層氣泡孔最小可檢測到50um

-可自動判斷有無缺陷

-客製化設計;滿足不同客戶需求

 

製程:

-出貨前檢測

優點:

-目視無法判斷的

-良率提高

-精度高

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