SFT110 X射線螢光鍍層厚度測量儀
即放即測、測試速度快、無標樣測量、多鍍層測量、廣域圖像觀察、低成本

SFT110 X射線螢光鍍層厚度測量儀詳細資料
■ 產品特色
- 即放即測:無需人工對焦造成誤差,測量結果更可靠;
- 測試速度快:3秒自動對焦,10秒鍾完成50nm級極薄鍍層的測量;
- 無標樣測量:與以往的技術相比,薄膜FP軟件得到進一步擴充,即使沒有標准品也能精確測量;
- 多鍍層測量:最多能夠進行5層的多鍍層樣品測量;
- 廣域圖像觀察:能將樣品圖像放大5到7倍,並對測量部位精確定位;
- 低成本:較以往機型價格降低了20。
SFT-110通過自動定位功能,僅需把樣品放置到樣品臺上,就可在數秒內對樣品進行自動對焦。由此,無需進行以往的手動逐次對焦的操作,大大提高了樣品測量的操作性。
近年來,隨著檢測零件的微小化,對微區的高精度測量的需求日益增多。SFT-110實現微區下的高靈敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
同時,SFT-110還配備有新開發的薄膜FP法軟體,即使沒有厚度標準物質也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量,可對應更廣泛的應用需求。
可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置,另有機倉開放式機種,可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量
低價位也是SFT-110的特點,與以往機型相比,既提高了功能性又降低20以上的價格。查看其它膜厚儀:http://www.techmaxasia.com/products/detail/6
膜厚儀作為可靠的品管工具,可針對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進行測量管理,可保證產品的功能及品質,降低成本。
SFT110可降低成本如下:
˙節省材料費,
全球資源緊缺已是大勢所趨,企業的材料費也是節節攀高;尤其是表面處理工作中所用到的貴金屬更是一漲再漲,比如眾如周知的黃金Au已從十幾年前的百餘元每 克上漲到三百多元,以印刷電路板廠每年產量幾十萬套為例,根據業界經驗如果能更好控制鍍層厚度,企業每年可節約上千萬的費用。
˙減少工期(作業人工)
通過X射線儀來評價,管理產品可以輕松知曉產品能發揮最大功能時的最小鍍層厚度,從而避免重復電鍍造成的電費和人工費的流失。
˙減少修理,修補等產生的制作費用
通過X射線儀可避免鍍層不均或太薄造成的品質問題,以及後續的返工造成的費用。
科邁斯科技,提供最優秀的產品,助您應對各種環境管制,提升產品品質!
■ 基本規格
測量元素
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原子序號22(Ti)~83(Bi)
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鍍層測試軟體
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薄膜FP法
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X射線管
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管電壓:50KV 管電流:1mA
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薄膜檢量線法
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檢測器
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比例計數管
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測量功能
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自動測量、中心搜索
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准直器
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0.1mm&Phi, 0.2mm&Phi
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定性功能
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KL標記線、對比顯示
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影像視窗
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CCD攝像機(帶倍率放大功能)
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安全功能
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樣品門安全防護機構
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X-ray Station
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電腦+19英寸液晶顯示器
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使用電源
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100~240V/15A
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樣品台移動量
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250(X)×200(Y)mm
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樣品最大高度
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150mm
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有任何技術問題或產品需求,歡迎與我們聯絡! (TEL: 02-89901779科邁斯科技)
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